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Detalles del producto
| El elipsómetro SpecEl-2000-VIS mide la luz polarizada reflejada desde la superficie de un sustrato para determinar el espesor y el índice de refracción del material en función de la longitud de onda. El SpecEl se controla a través de un PC. Mide el índice de refracción, la absorbancia y el grosor con el toque de un botón. |
Sistema preciso todo en uno
El SpecEl alberga una fuente de luz integrada, un espectrómetro y dos polarizadores fijados a 70°. También incluye un PC con un sistema operativo Windows de 32 bits. El SpecEl puede detectar una sola capa tan delgada como 0,1 nm y de hasta 5 m m de grosor. Además, puede proporcionar índices de refracción a 0,005°.
El SpecEl está disponible para Call for Price.
Software SpecEl y archivos de 'receta'
En SpecEl Software, puede configurar yguardar archivos de método de experimento para un análisis en un solo paso. Después de crear una 'receta', puede seleccionar la receta para ejecutar el experimento.
Especificaciones
| Rango de longitud de onda: | 380-780 nm (estándar) o 450-900 nm (opcional) |
| Resolución óptica: | FWHM de 4,0 nm |
| Precisión: | espesor de 0,1 nm; Índice de refracción 0,005% |
| Ángulo de incidencia: | 70° |
| Espesor de película: | 1-5000 nm para película transparente única |
| Tamaño del punto: | 2 mm x 4 mm (estándar) o 200 µm x 400 µm (opcional) |
| Tiempo de muestreo: | 3-15 segundos (mínimo) |
| Registro cinético: | 3 segundos |
| Tolerancia mecánica (altura): | +/- 1,5 mm, ángulo +/- 1,0° |
| Número de capas: | Hasta 32 capas |
| Referencia: | No aplicable |
Consulta en línea
