Difractómetro de rayos X policristalino

Tipo xd6Difractómetro de rayos X policristalinoSe utiliza para el análisis cualitativo y cuantitativo de la estructura de la materia cristalina. El producto está diseñado sobre la base de xd3, y el radio de escaneo del goniómetro es ajustable continuamente. Esta función permite a los usuarios seleccionar de manera equilibrada entre la resolución angular del instrumento y la intensidad de los rayos derivados de prueba, estableciendo las condiciones de prueba necesarias por sí mismos para satisfacer las necesidades de prueba en diferentes situaciones. El xd6 mejora la velocidad de rotación rápida, mejorando así la eficiencia experimental.

Difractómetro de rayos X policristalinoCaracterísticas:

· Nueva estructura, estructura de medidor de ángulo vertical, método de colocación de muestras más conveniente, simplificación de la intensidad de trabajo de operación y mantenimiento, uso más intuitivo, fácil de limpiar la Mesa de muestras después del experimento.

· adopta la tecnología de fuente de alimentación de accionamiento subdividida, y el radio de escaneo es continuamente ajustable.

· detector de conteo de cristales centelleantes Nai importado, con buena resolución y estabilidad de uso a largo plazo.

· la manga del tubo de rayos X utiliza barras de cobre integrales para procesar la precisión de posicionamiento y la Protección Radiológica es mejor; Se utiliza un obturador de rueda giratoria, la velocidad del interruptor es más rápida, la tasa de falla es menor, el bloqueo de rayos es mejor y la dosis de radiación fuera del Gabinete es baja.

· el circuito de control digital de la fuente de luz de rayos X se ha mejorado aún más, y la Potencia de trabajo de la máquina de rayos X se establece a distancia por computadora. El proceso de carga de alta presión y flujo de tuberías se controla y opera automáticamente por microcomputadoras, lo que hace que el uso sea más simple y el funcionamiento sea más confiable.

· interfaz de operación de ventana china, un paquete de software de procesamiento de datos de difracción PDP recién revisado, que admite una variedad de métodos de salida de datos.