
Presentación del producto
El FT110AEs un escritorioradiodifusión XRFEl analizador está diseñado para hacer frente al desafío del análisis de recubrimientos en la producción. PotenteXLa combinación de la tecnología de fluorescencia de rayos X y la función de posicionamiento automático ayuda a aumentar la productividad del taller de galvanoplastia, al tiempo que garantiza que los componentes cumplan con altos estándares.
Precisión y fiabilidad apoyan el control de calidadradiodifusión XRFEl núcleo del análisis, mientrasEl FT110APuede proporcionar la precisión necesaria para los componentes de galvanoplastia actuales. El sistema de imágenes actualizado, la localización automática de muestras y la gran mesa de muestras hacen que el analizador sea muy fácil de usar, aumentando el flujo y reduciendo los errores humanos. PotenteEl FT110ACapaz de medir hasta cuatro capas y sustratos al mismo tiempo, apoyará sus instalaciones las 24 horas del día para cumplir con las más altas especificaciones de galvanoplastia de la industria.
Características del producto
Especialmente diseñado para la producción de alto rendimiento, echemos un vistazoEl FT110ACómo apoyar su control de calidad.
Potente tecnología de alta sensibilidad que ofrece resultados en pocos segundos
Pruebas no destructivas de la seguridad de los productos terminados
Las funciones de automatización aumentan la productividad
Analizar hasta cuatro capas y sustratos, más líquido de galvanoplastia
Fácil de usar para operadores no profesionales
El método de medición cumplenorma ISO 3497,norma ASTM B568yDIN 50987
La cabina de muestras grandes puede acomodar todo tipo de muestras.
Opciones personalizables para su aplicación
Parámetros técnicos
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El FT110A |
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Rango de elementos |
Ti-U |
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Detector |
Sistema de Contador proporcional |
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Diseño de la cabina de muestra |
Abierto o cerrado o ranurado |
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Número de colimadores |
2 O4 |
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Colimador mínimo |
0,025 x 0,4 mm |
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XYSelección de la Mesa de muestras del eje |
Programa controlado o fijo |
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XYRecorrido de la Mesa de muestras del eje |
250 x 200 mm |
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Programa controladoZRecorrido por eje |
150 mm |
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Tamaño máximo de la muestra |
500 x 400 x 150 mm |
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Enfoque de la muestra |
Láser de enfoque y enfoque automático opcional |
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Vista de la muestra |
Vista de la Cámara y cámara opcional de segundo ancho |
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Identificación del punto de medición |
Opcional |
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Software |
Estación de rayos X |
